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XRF光谱仪
参考价:

型号:EDX8900

更新时间:2024-10-29  |  阅读:1312

详情介绍

EDX8900 XRF光谱仪作为一款高性能的台式高分辨率X射线荧光(EDXRF)元素分析仪,新款EDX8800M MAX配置了*基于Windows基本参数算法的FP(Fundamental parameter)软件,同时配备了高性能硬件,来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。

EDX8900M MAX专注于对各种材料的主量,微量和痕量元素或化合物进行定性和定量分析,其中包括:

•铁矿• 铜矿• 铝土矿•贵金属材料•稀土矿•原料•磷酸盐•煤炭•铅锌矿•锰矿•镍矿•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等。

EDX8800M MAX操作简单,分析性能出色,同时还可拓展到以下应用:

>塑胶及有机物:塑料材料PE,PVC,添加剂等元素分析

>合金成分分析,牌号鉴定,贵金属测定,三元催化分析

>石油化工:燃料,润滑油监测,添加剂,磨损金属等中的硫元素分析

>环境:废水,空气污染,土壤和地面,排放控制等

>涂层厚度和薄膜:分析多层涂层,钢涂层,杂质等

>刑侦及公安:证据分析,材料匹配,爆炸物等

>食品,化妆品和药品:添加剂控制,原材料,有害金属,包装材料等

XRF光谱仪产品特点:

作为一款专业为材料成分分析而设计和生产的光谱仪,EDX-8900M MAX兼顾了耐用性,易于操作和高性价比。其显著优势主要有:

•无需或者很少的样品制备,全程无损分析,一到三分钟即可出结果

•高功率光管和电制冷的FSDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性,而且具有出色的元素峰分辨率

•能同时进行元素和氧化物成分分析

•多重仪器硬件保护系统,并可通过软件进行全程实时监控,让仪器工作更稳定、更安全

•特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P)的测试灵敏度和准确性,同时可选配氦气充气系统

•友好的用户界面,可定制的分析报告,可一键打印测试报告,包括分析结果,样品信息,光谱信息和样品图像

•八种光路准直系统,根据不同样品大小自动切换,亦可测试样品不同位置再求平均值,降低样品不均匀性造成的误差

•高清内置摄像头,清晰地显示仪器所检测的样品部位

材料元素检测专家EDX8900M MAX仪器参数:

仪器外观尺寸: 650mm*600mm*900mm

仪器重量:105Kg

元素分析范围:Na11-U92钠到铀

可分析含量范围:1ppm- 99.99%

探测器:高分辨率电制冷FSDD硅漂移检测器

高通量计数率线性动态范围:1000-1000000cps ,包括信号增强处理模块SNE

多道分析器:4096道DPP analyzer 分析器,峰飘小于0.5道(24小时)

X光管:高功率铍窗光管(可选配高功率复合靶材光管)

高压发生装置:电压输出100kV,自带电压过载保护

样品观察系统:1000万像素高清CCD摄像头,包括样品光斑图像定位功能

数据处理系统MCA:控制响应时间小于100毫秒,可同时采集9路反馈信号,实时监测包括管压,管流,基线,死时间,温度,计数率,真空度,准直器,滤光片状态信号

样品腔:空气,真空,充氦气(选配)。内置高功率真空泵 ,全自动软件控制调节真空系统,双真空抽速机构,标配真空度自动稳定系统

电压:220ACV 50/60HZ

环境温度:-10 °C 到35 °C

可增选配置:

1样品自旋系统,增加样品测试面积,提升粉末样品测试精度。

2可充氦气微型样品腔,提高液体,粉末轻元素测试性能。

ESI xrf analyzer.jpg



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